Нормы освещенности рабочих поверхностей при визуально-оптическом контроле

Точность работы	Наименьший размер объекта различения, мм	Контраст объекта различе­ния с фоном	Характеристика фона	Система комбинированного освещения	Система общего освещения
Разрядные лампы, лк	Лампы накаливания, лк	Разрядные лампы, лк	Лампы накаливания, лк
Наивысшая	Менее 0,15	Малый » Средний Малый Средний Большой Средний Большой »	Темный Средний Темный Светлый Средний Темный Светлый » Средний
Очень высокая	0,15-0,3	Малый » Средний Малый Средний Большой Средний Большой »	Темный Средний Темный Светлый Средний Темный Светлый » Средний
Высокая	0,3-0,5	Малый » Средний Малый Средний Большой Средний Большой »	Темный Средний Темный Светлый Средний Темный Светлый » Средний
Средняя	0,5-1,0	Малый » Средний Малый Средний Большой Средний Большой »	Темный Средний Темный Светлый Средний Темный Светлый » Средний

Видимость дефектов определяется контрастностью, яркостью, освещенностью и угловым размером объекта. Наиболее важным условием видимости является контраст. Контраст определяется свой­ством дефектов выделяться на окружающем фоне при различных оптических характеристиках дефекта и фона. В табл. 6.2 приведены нормы освещенности рабочих поверхностей при визуально-опти­ческом контроле.

Оптические приборы значительно расширяют пределы возмож­ностей глаза, что позволяет видеть дефекты, размеры которых нахо­дятся за пределами разрешающей способности невооруженного глаза. Для визуально-оптического контроля деталей целесообразно при­менять приборы с кратностью увеличения не более 20...30, так как с возрастанием кратности увеличения уменьшаются поле зрения, глубина резкости, производительность и надежность контроля.

По назначению и конструктивным особенностям визуально-оптические приборы делятся:

на приборы для обнаружения близкорасположенных дефектов с расстояния наилучшего зрения 250 мм и менее. Приборы этой группы монокулярные и бинокулярные лупы (лупы Польди — ЛП; складные лупы — ЛАЗ; измерительные лупы — ЛИЗ; штативные лупы — ЛГИ, ЛПГИ, ЛПШ и др.) и микроскопы (МИР и др.);

оптические приборы для обнаружения невидимых дефектов в закрытых полостях конструкций, деталей, отверстий и т.д. Для контроля скрытых поверхностей применяются эндоскопы, пери­скопические дефектоскопы и др. Контроль с помощью линзового эндоскопа (рис. 6.2) заключается в осмотре закрытых поверхнос­тей через специальную оптическую систему с подсветкой, обеспе­чивающей передачу изображения на расстояние в несколько мет­ров. Перспективными являются конструкции эндоскопов с воло­конными световодами, позволяющие передавать изображения без искажения на значительные расстояния. Волоконные световоды состоят из тонких светопроводящих нитей диаметром до 50 мкм с оболочкой толщиной до 2 мкм, собранных в гибкий жгут.

При недостаточной освещенности контролируемой поверхнос­ти применяют светильники направленного излучения с разрядны­ми лампами или лампами накаливания.

Магнитно-порошковый метод (ГОСТ 21105—87) используется только для контроля деталей, изготовленных из ферромагнитных материалов. Применяется для обнаружения поверхностных нару­шений сплошности с шириной раскрытия у поверхности 0,001 мм, глубиной 0,01 мм и выявления относительно больших подповерхностных дефектов, находящихся на глубине до 1,5... 2,0 мм. Метод использует магнитное поле рассеяния, возникающее над дефек­том при намагничивании изделия и основан на явлении притяже­ния частиц магнитного порошка в местах выхода на поверхность контролируемой детали магнитного потока. Благодаря скоплению магнитного порошка в области дефекта обеспечивается визуализация форм и размеров невидимых в обычных условиях дефектов.

 

Рис. 6.2. Схема эндоскопа: 1 — корпус; 2 — призма; 3 — контролируемая поверхность; 4 — объектив; 5 — передающая система; б— окуляр; 7— объектив; 8— пере­дающая телевизионная трубка; 9 — видеокон­трольное устройство

Важное достоинство метода — это возможность точного опре­деления расположения концов усталостных трещин и обнаруже­ние дефектов через слой немагнитного покрытия. Если на конт­ролируемой поверхности толщина немагнитного покрытия со­ставляет де в, 1 мм, целесообразно применять магнитные сус­пензии, асвыше0,1 мм — магнитный порошок во взвешенном состоянии.

Чувствительность метода определяется магнитными характери­стиками материала контролируемого изделия, его формой и раз­мерами, чистотой обработки поверхности, напряженностью на­магничивающего поля, способами контроля, взаимным направле­нием намагничивающего поля и дефекта, свойствами применяе­мого порошка, способом нанесения порошка или суспензии, а также освещенностью контролируемого участка изделия. Установ­лены следующие уровни чувствительности (табл. 6.3).

Для обнаружения дефектов деталь намагничивают, и на поверх­ность, подлежащую контролю, наносят ферромагнитные части­цы, которые находятся во взвешенном состоянии (чаще всего в виде суспензий на основе воды, керосина, минеральных масел). Если на пути магнитного потока встречается препятствие в виде нарушения сплошности (дефект), то часть магнитных силовых ли­ний выходит из металла (рис. 6.3). Там, где они выходят из металла и входят обратно, образуются локальные магнитные полюса N и S, обусловливающие локальное магнитное поле над дефектом (поле рассеяния). Поскольку это поле неоднородно, на попавшие в него магнитные частицы действуют силы, стремящиеся затянуть их в места наибольших концентраций магнитных силовых линий. Для намагничивания деталей применяют постоянный и переменный токи, а также постоянные магниты.

 

Таблица 6.3