Двойной микроскоп В. П. Линника мис-11

Двойной микроскоп МИС-11 предназначен для измерения по параметру Rz и фотографирования шероховатости поверхности в пределах 3-9-го классов чистоты включительно. Прибор обеспечивает увеличение от 9 до 270 раз. Контроль шероховатости поверхности производится по методу светового сечения. Поле зрения от 0,3 до 1 мм. Пределы измерений прибора определяются выбором соответствующих объективов в зависимости от шероховатости контролируемой поверхности (таблица 6.2).

 

Таблица 6.2 Выбор объективов МИС - 11 в зависимости от шероховатости (класса чистоты) контролируемой поверхности

Класс чистоты (Rz)	Шифр объектива	Фокусное расстояние объектива, мм	Кратность увеличения	Погрешность измерения, %
3 - 6 (80..6,3)	ОС - 39	25,0	5,9; 1,8	6 - 22
5 - 7 (20..3,2)	ОС - 40	13,9	10,6	10 - 25
6 - 8 (6,3..1,6)	ОС - 41	8,2	18,0	12 - 30
8 - 9 (3,2...0,8)	ОС - 42	4,3	34,5	25 - 32

Подробное описание прибора МИС-11 и принципа его работы даны в литературных источниках [1], [2]. После ознакомления с микроскопом работа по измерению высоты микронеровностей Rz проводится в следующей последовательности. Ввернуть в тубусы микроскопа два одинаковых объектива, подобранных с учетом ожидаемого класса чистоты контролируемой поверхности. Положить контролируемую деталь на столик микроскопа и включить освещение. Круглой гайкой установить корпус на требуемую высоту (расстояние между контролируемой поверхностью и объективами должно быть в пределах 10 мм) и застопорить винтом. Винтами грубой и точной настройки добиться получения четкой фокусировки изображения световой щели. Поворотом микровинта окулярного микрометра подвести горизонтальную линию перекрестия к вершине, а затем к впадине изгиба щели. Высота неровностей в данном сечении определяется по формуле

где а - разность показаний окулярного микрометра, мкм;

М - увеличение объективов, установленных на микроскопе.

Величина Rz определяется как среднеарифметическое из пяти наибольших значений Dh на длине участка измерений.

 

Профилограф - профилометр АБРИС – ПМ 7,2

Профилограф - профилометр АБРИС–ПМ 7,2 состоит из следующих основных частей (рисунок 6.1):

- первичного преобразователя (датчика) (поз. 1);

- отсчетного устройства (поз. 2);

- адаптера питания (поз. 3);

- системного блока (поз. 4);

- монитора (поз. 5);

- клавиатуры (поз. 6);

- печатающего устройства (поз. 7);

- мыши (поз. 8).

 

		Рисунок 6.1 Профилограф-профилометр АБРИС – ПМ 7.2

 

 

Действие профилографа - профилометра основано на ощупывании неровностей измеряемой поверхности алмазной иглой и преобразовании колебаний щупа датчика в колебания электрического напряжения, пропорциональные этим колебаниям. Колебания напряжения обрабатываются в отсчетном устройстве или персональном компьютере по специальной программе, и результат обработки выводится в цифровом виде на индикатор отсчетного устройства или в цифровом и графическом виде на экран монитора персонального компьютера.

При использовании прибора в качестве профилометра цифровое значение вычисленных параметров выдается в десятичном виде на устройство цифровой индикации отсчетного устройства. При использовании прибора в качестве профилографа подключается персональный компьютер и на мониторе демонстрируются результаты измерений параметров Ra, Rz, Rmax, Sm, профилограммы измеренной поверхности, гистограмма относительной опорной длины профиля.

Работа на приборе. Предварительная подготовка прибора к работе и его настройка проводится в соответствии с «Руководством по эксплуатации ПМ-7,2». Настроенный первичный преобразователь (датчик) базируется на измеряемую поверхность либо непосредственно основанием, либо с помощью дополнительных приспособлений таким образом, чтобы рабочая поверхность щупа датчика, вершина алмазной иглы и рабочая плоскость преобразователя находились в одной плоскости. При этом индикатор датчика должен светится тем ярче, чем ближе к сбалансированному положению находится измерительный механизм датчика. Исходя из величины ожидаемой шероховатости, переключателями на корпусе отсчетного устройства устанавливается базовая длина и длина трассы ощупывания. Команда на начало измерения дается однократным нажатием кнопки либо на первичном преобразователе (датчике), либо на отсчетном устройстве, либо с клавиатуры персонального компьютера. Измерительный механизм перемещает алмазную иглу в направлениях рабочего и холостого ходов. Алмазная игла, копируя неровности поверхности, получает колебания, которые затем преобразуются колебания электрического напряжения. Счетно-решающее устройство обрабатывает полученные сигналы и выдает на экран вычисленные параметры шероховатости измеряемой поверхности.