Дифракция Фраунгофера на прозрачной дифракционной решетке.

Простейшей дифракционной решеткой является одномерная дифракционная решетка. Она представляет собой систему из большого числа N одинаковых щелей шириной b в непрозрачном экране, разделенных непрозрачными участками шириной a (рис. 8а). Расстояние d между сходственными точками соседних щелей называется постоянной или периодом решетки (d=a+b).

Схема наблюдения дифракции Фраунгофера представлена на рис. 8б. Если на решетку падает нормально плоская монохроматическая волна (с длиной волны l), то в результате дифракции щели становятся источниками вторичных волн, амплитуды которых одинаковы (A₁=A_j) и зависит только от угла дифракции (см. формулу (4).

Такие дифрагированные (т.е. возникшие в результате дифракции на щелях) волны, распространяясь в направлении, определяемом углом дифракции j, собираются в соответствующей точке P_j экрана, где интерферируют. При этом колебания, создаваемые в точке P_j соседними щелями, сдвинуты по фазе на одну и туже величину d₀, зависящую от j и l.:

(11)

где - оптическая разность хода лучей от сходственных точек сосед­них щелей до точки P_j, рассчитанная из прямоугольного треугольника MNF (рис. 8в).

Таким образом, на экране имеет место интерференция многих волн. В результате на экране возникает сложная дифракционная картина, отличающаяся от картины, даваемой одной щелью. Очевидно, что в тех направлениях j, в которых ни одна из щелей не испускает свет, он не будет распространяться и при множестве щелей. В результате будут наблюдаться главные минимумы (формула (8)). В направлениях j, в которых колебания от отдельных щелей усиливают друг друга, будут наблюдаться главные максимумы. В тех направлениях, для которых колебания от отдельных щелей

 

Рис. 8. а) Схема дифракционной решетки с периодом d; б) Схема наблюдения дифракции Фраунгофера на решетке, где Л – собирающая линза, Э – экран, f – фокусное расстояние линзы, O – центр линзы, Р₀ – точка на экране, лежащая на оптической оси линзы; в) к расчету оптической разности хода.взаимно погашают друг друга, возникают добавочные минимумы. В направлениях, в которых колебания от отдельных щелей частично ослабляют друг друга, имеют место, как и в случае многолучевой интерференции, мало интенсивные побочные максимумы.

Для точного решения задачи о дифракции на решетке надо использовать результаты интерференции многих волн. Заменив в формуле (4) A₁ на A_j, I₁ на I_j, взятые из выражения (7) и подставив вместо d₀ выражение (8), для результирующей амплитуды и интенсивности имеем:

(12)

где A₀ и I₀ – амплитуда и интенсивность колебаний в точке P₀ (т.е. при j =0), обусловленных действием одной щели.

Главные минимумы при дифракции света на дифракционной решетке наблюдаются под углами дифракции j, соответствующими интерференционным минимумам при дифракции на одной щели:

(13)

В этих направлениях каждая из щелей не дает света («сама себя гасит»).

Главным максимумам соответствуют углы дифракции j, удовлетворяющие условию:

(14)

где m =0,1,2,… - порядок главного максимума.

При этом условии в формулах (12) возникает неопределенность 0/0. На основании правила Лопиталя можно показать, что отношение синусов в данных формулах при этом равно N.

Амплитуда и интенсивность главных максимумов в этом случае будет: , где A _j и I _j - амплитуда и интенсивность света, создаваемые в направлении главного максимума одной щелью.

Между каждыми двумя главными максимумами находится N-1 дополнительных минимумов, удовлетворяющих условию:

(15)

 

где p принимает любые целые положительные значения, кроме N, 2N, 3N и т.д. Соответственно имеется N-2 дополнительных максимумов, интенсивность которых пренебрежимо мала по сравнению с главными максимумами.

Угловая «ширина» главного максимума m -го порядка, т.е. разность значений угла j, соответствующих дополнительным минимумам, ограничивающим этот максимум, равна:

(16)

где - длина дифракционной решетки. Для главных максимумов не слишком высоких порядков углы малы и cos »1, так что .

Если некоторые значения j одновременно удовлетворяют условиям и для главных максимумов, и для главных минимумов, то главные максимумы, соответствующие этим значениям j, не наблюдаются. Например, если , то все кратные трем главные максимумы (m =3,6,9, и т.д.) отсутствуют. На рис. 9 приведена дифракционная картина для решетки с N =4 и d=3b. Пунктирная кривая изображает интенсивность от одной щели, умноженную на N².

 

Рис. 9

В монохроматическом свете дифракционная картина имеет, при больших N, вид узких и ярких главных максимумов, разделенных практически темными широкими промежутками. Если отношение d / b – не равно отношению целых чисел, то интенсивности главных максимумов монотонно уменьшаются с ростом их порядка m:

(17)

Количество возникающих на экране максимумов в общем случае определяется отношением d к l. Так как модуль sin j не может превысить единицу, то из формулы (14) следует, что максимальный порядок главных максимумов: . Однако, при наблюдении дифракционной картины видны только главные максимумы, расположенные между первыми главными минимумами, для которых . Остальные главные максимумы слабы и практически не видны. Поэтому предельный порядок наблюдаемых главных максимумов m_пред удовлетворяет неравенству , т.е. . Откуда следует:

(18)

Углы дифракции для главных максимумов зависят от длины волны, т.к. . Поэтому при освещении решетки белым светом на экране наблюдается неокрашенный центральный максимум нулевого порядка, а по обе стороны от него – дифракционные спектры 1-го, 2-го и т.д. порядков. Спектры имеют вид радужных полосок, в которых наблюдается непрерывный переход от окраски сине-фиолетового цвета у внутреннего края спектра к красной у внешнего края.

Дифракцию Фраунгофера на решетке можно наблюдать без собирающей линзы, что возможно при больших расстояниях l от решетки до экрана, которые удовлетворяют условию - длина решетки, равная N×d. В этом случае лучи, идущие от всех щелей в любую точку экрана практически параллельны.

 

МЕТОДИКА ВЫПОЛНЕНИЯ РАБОТЫ

Лабораторная установка

 

Лабораторная установка для определения длины волны лазерного излучения, периода решетки и диаметра частиц ликоподия показана на Рис.10.

 

Рис.10. Установка для определения λ, d и диаметра мелких частиц.1–лазер, 2–экран, 3– столик для исследуемых предметов, 4–исследуемый предмет, 5–защитный экран, 6–блок питания, 7– рельс.

 

Расчеты по результатам измерений делаются на компьютере.