Определение длины световой волны лазерного луча 


Мы поможем в написании ваших работ!



ЗНАЕТЕ ЛИ ВЫ?

Определение длины световой волны лазерного луча



1.1. Ознакомиться с установкой.

1.2. Дифракционную решетку вставить в рамку рейтера 3.

1.3. Включить лазер в сеть.

1.4. Направить луч лазера на дифракционную решетку и, передвигая вдоль скамьи рейтер 3, установить его в таком месте, чтобы дифракционная картина была четкой и, по возможности, занимала бы большую часть шкалы.

1.5. По шкале произвести отсчет координат х л и х п одномерных максимумов всех порядков слева и справа от нулевого максимума. Результаты занести в табл. 1.

1.6. Измерить с помощью линейки расстояние L между дифракционной решеткой и плоскостью экрана. Выписать с дифракционной решетки значение постоянной решетки d.

1.7. Вычислить расстояние l кмежду максимумами каждого порядка, а также tg j к. Найти j к и sin j к. Результаты занести в табл. 1.

1.8. По формуле (см. 8.7) вычислить длину волны l

Таблица 1

  d =, L =
Поря-док макси- мумов   х п х л lk = х п л tg jк jк sin jк
. .              

 

лазерного луча по данным для каждого порядка максимумов и среднее значение длины волны < l >.

1.9. Вычислить угловую дисперсию и разрешающую способность дифракционной решетки для третьего порядка спектра.

 

Определение ширины щели

2.1. В рамку рейтера 3 вместо дифракционной решетки вставить металлическую щель.

2.2. Направляя луч лазера на щель, передвигая рейтер 3 и изменяя ширину щели (если это предусмотрено), добиться четкой дифракционной картины.

2.3. Измерить расстояние между крайними минимумами одного порядка и расстояние L от щели до экрана.

2.4. Вычислитьsinjк. Так как угол jкв этом случае мал, то .

2.5. По формуле (см. 8.6) вычислить ширину щели. Значения l (<l>) определены в упражнении 1. Результат занести в табл. 2.

 

Таблица 2

Поря-док <l> L  
мини-мума х п х л lk = x п - х л = sin jк
             

 

КОНТРОЛЬНЫЕ ВОПРОСЫ

 

1. Дифракция света.

2. Принцип Гюйгенса - Френеля.

3. Метод зон Френеля.

4. Дифракция света на одной щели. Условия максимума и минимума.

5. Как выглядит дифракционная картина от дифракционной решетки. Условия максимума. Как меняется картина с увеличением числа щелей.

6. Сравнить дифракционную картину от решетки в монохроматическом и белом свете.

7. Какими величинами характеризуют качество дифракционной решетки?

8. Что такое угловая (линейная) дисперсия дифракционной решетки. Как ее вычислить?

9. С чем связана необходимость введения “разрешающей силы” дифракционной решетки. Что это такое?

 

ЛАБОРАТОРНАЯ РАБОТА№ 9

ИССЛЕДОВАНИЕ ФОТОЭЛЕМЕНТОВ

Цель работы: снять вольт-амперную и люкс-амперную характеристики вакуумного фотоэлемента и фотосопротивления.

Приборы и принадлежности: оптическая скамья, вакуумный фотоэлемент СЦВ-4, фотосопротивление, вольтметр, миллиамперметр, выпрямитель, источник света.

 

Сведения из теории

 

Действие фотоэлементов основано на явлениях внешнего и внутреннего фотоэффектов.

Внешним фотоэффектом называется явление испускания электронов металлами под действием света. Для внешнего фотоэффекта характерны следующие закономерности.

1. Число электронов, испускаемых веществом в единицу времени, пропорционально интенсивности падающего света.

2. Начальная скорость вылетевших электронов определяется частотой света и не зависит от его интенсивности. С увеличением частоты падающего света скорость электронов увеличивается.

3. Для каждого вещества существует так называемая красная граница фотоэффекта, т.е. минимальная частота света n 0, при которой еще имеет место фотоэффект. Величина n 0 зависит от химической природы вещества и состояния его поверхности.

4. Фотоэффект практически безынерционен, т.е. между началом освещения и возникновения фотоэффекта нет заметного промежутка времени.

Закономерности фотоэффекта не укладываются в рамки классической электромагнитной теории света.

Эйнштейн показал, что все основные закономерности фотоэлектрического эффекта непосредственно объясняются, если предположить, что свет поглощается такими же порциями энергии, какими он, по предположению Планка, испускается. В самом деле, при вырывании электрона из металла энергия кванта света идет на работу выхода А электрона из металла и на сообщение электрону кинетической энергии

Так как порция световой энергии, поглощенной электроном при его вырывании, равна hn, то позакону сохранения энергии

.

Это равенство называется уравнением Эйнштейна для внешнего фотоэффекта. Из этого уравнения следует, что минимальная порция энергии, необходимая для вырывания, должна быть равна работе выхода А. Следовательно, частота n0, соответствующая красной границе фотоэффекта, n0 = A / h.

Внутренним фотоэффектом называется появление под действием света внутри диэлектрика или полупроводника добавочных свободных электронов.

Поглощая фотоны, связанные электроны вещества получают энергию, но не вылетают за пределы вещества, а становятся свободными, оставаясь внутри вещества и увеличивая его проводимость (явление фотопроводимости).

Механизм внутреннего фотоэффекта вскрывается зонной теорией твердых тел, согласно которой электроны, поглощая кванты света, переходят из валентной зоны в зону проводимости.

Законы внутреннего фотоэффекта эквивалентны законам внешнего фотоэффекта.

На основании внешнего и внутреннего фотоэффектов строится большое число приемников излучения, преобразующих световой сигнал в электрический и объединенных общим названием – фотоэлементы.



Поделиться:


Последнее изменение этой страницы: 2016-04-21; просмотров: 397; Нарушение авторского права страницы; Мы поможем в написании вашей работы!

infopedia.su Все материалы представленные на сайте исключительно с целью ознакомления читателями и не преследуют коммерческих целей или нарушение авторских прав. Обратная связь - 13.58.57.131 (0.008 с.)