Описание объекта контроля и методики измерений

Объектом контроля являются резисторы, сформированные на ке­рамической подложке. Топология микросборки приведена на рис. 4. Номинальные значения сопротивлений резисторов микросборки и их схемные допуски даны в табл.1.

Для контроля ТП в лабораторной работе используются выборки объемом в 5 подложек из 6 последовательно изготавливаемых партий. Для удобства измерений подложки каждой выборки объединены кон­структивно в одной кассете

Измерения сопротивлений производятся прибором B7-20. Кон­тактные площадки, к которым должны подключаться щупы прибора, на топологии обведены жирными линиями.

 

Таблица1.

Номинальные значения и допуски сопротивлений резисторов

 

Позицион­ное обоз­начение	Номинал, кОм	Допуск,	Позицион­ное обоз­начение	Номинал, кОм	Допуск, %
	2.7	+ 5
	3,0	15, - 5		0,08
	3,0	15, - 5		0,08
	2,7
	3.0	15, - 5		3,0
	2,7			2.7
	3,0	15, - 5		4.0
	0,08			2,0
	2.0			1.0
	2.0
	0.08

 

Порядок выполнения работы

Подготовка контрольных карт

1. Получить у преподавателя задание, включающее номера из­меряемых сопротивлений, соответствующие значения с,к.о. со­противлений в партиях для налаженного процесса, вероятность ошибки первого рода .

2. Рассчитать положения границ регулирования по формулам (3) и (4). Значения квантилей и приведены в табл. 2.

Таблица 2

Квантили нормального распределения и распределения для вероятности Р и числа степеней свободы 4

 

Квантиль	Значение Р
	0.9	0,95	0,975
	1.28	1,645	1,96
	7,78	9,49	11,1

3. Вычертить заготовки для контрольных карт и нанести на них линии, соответствующе границам регулирования.

 

Контроль состояния технологического процесса

1. Измерить значения первого из заданных резисторов на всех подложках первой выборки.

2. Рассчитать значения выборочных характеристик и по формулам (1) и (2), нанести на карты точки, соответствующие этим значениям.

3. Повторить пункты 1 и 2 для второй и последующих партий и заполнить контрольные карты для первого резистора.

4. Проанализировать ход ТП по и картам и сделать вывод о налаженности ТП при формировании данного резистора.

Заполнить и проанализировать контрольные карты в соответствии с пунктами 1 - 4 для остальных резисторов, указанных в задании.

 

 

Задание по УИРС

В порядке УИРС могут быть предложены следующее вопросы:

- анализ корреляционных связей сопротивлений резисторов, вы­полненных из одной пасты по объединенной выборке, заданной пре­подавателем; формулы для расчета выборочного коэффициента корре­ляции и соответствующих доверительных интервалов приведены в литературе [6];

- анализ налаженности процесса по контрольным картам разма­ха по методике, приведенной в литературе [6].

4. Указания по оформлению отчета

Отчет должен содержать:

а) формулировку цели работы;

б) ве­дение;

в) расчетные формулы с пояснениями;

г) -карты и -карты для заданных резисторов;

д) выводы о состоянии ТП по всем резис­торам.

5. Контрольные вопросы

Литература

1. Клячкин В.Н. Многомерный статистический контроль технологического процесса.- М.: Финансы и статистика, 2003.-192 с.

2. Клячкин В.Н. Статистические методы в управлении качеством: компьютерные технологии: Учеб. пособие/ В.Н.Клячкин.- М.:Финансы и статистика, 2007. – 304 с.

3. Адлер Ю.П., Шпер В.Л. Интерпретация контрольных карт Шухарта. – Методы менеджмента качества, 2003.

ПРИЛОЖЕНИЕ