Заглавная страница Избранные статьи Случайная статья Познавательные статьи Новые добавления Обратная связь FAQ Написать работу КАТЕГОРИИ: АрхеологияБиология Генетика География Информатика История Логика Маркетинг Математика Менеджмент Механика Педагогика Религия Социология Технологии Физика Философия Финансы Химия Экология ТОП 10 на сайте Приготовление дезинфицирующих растворов различной концентрацииТехника нижней прямой подачи мяча. Франко-прусская война (причины и последствия) Организация работы процедурного кабинета Смысловое и механическое запоминание, их место и роль в усвоении знаний Коммуникативные барьеры и пути их преодоления Обработка изделий медицинского назначения многократного применения Образцы текста публицистического стиля Четыре типа изменения баланса Задачи с ответами для Всероссийской олимпиады по праву Мы поможем в написании ваших работ! ЗНАЕТЕ ЛИ ВЫ?
Влияние общества на человека
Приготовление дезинфицирующих растворов различной концентрации Практические работы по географии для 6 класса Организация работы процедурного кабинета Изменения в неживой природе осенью Уборка процедурного кабинета Сольфеджио. Все правила по сольфеджио Балочные системы. Определение реакций опор и моментов защемления |
Визначення ширини забороненої зони напівпровідників з температурної залежності їх провідності↑ ⇐ ПредыдущаяСтр 5 из 5 Содержание книги
Поиск на нашем сайте
Мета роботи Оволодіти методикою визначення ширини забороненої зони напівпровідників з температурної залежності їх провідності
Для виконання лабораторної роботи студенту попередньо необхідно: знати особливості зонної структури металів, діелектриків та напівпровідників (§6.1), механізми власної і домішкової провідностей напівпровідників (§6.2, §6.3)
Прилади і обладнання Зразок власного напівпровідника з електричними контактами, цифровий мілівольтметр, цифровий прилад для вимірювання опору, автотрансформатор, резистивний нагрівник, термопара
Теоретичні відомості та опис установки Як відомо, для власних напівпровідників залежність питомої провідності від температури описується виразом (6.3) (див. §6.2). Цю залежність можна подати так: , (1) де - питома провідність власного напівпровідника при ; - ширина забороненої зони напівпровідника; - стала Больцмана. Формула (1) описує пряму (рис.1), тангенс кута нахилу якої до осі абсцис дорівнює: . Тому ширину забороненої зони власного напівпровідника можна визначити із співвідношення: , (2) де , – значення ординати прямої у відповідних точках і її абсциси (рис.1). В даній лабораторній роботі використовується лабораторна установка, яка схематично наведена на рис.2. Рис. 2
Напівпровідниковий зразок 1 розміщений всередині нагрівного елемента 3. Живлення нагрівного елемента здійснюється від автотрансформатора 4, увімкненого в мережу 220 В. Напруга на нагрівнику контролюється вольтметром 7. Для вимірювання температури використовується термопара 2 хромель–копель, яка під’єднана до мілівольтметра 5. Опір досліджуваного зразка вимірюється за допомогою цифрового приладу 6 для вимірювання опору. Досліджуваний зразок має форму паралелепіпеда довжиною L =3 мм та площею поперечного перерізу S =0,1 мм2. Питому провідність зразка розраховують за даними вимірювання його опору та відомими значеннями довжини зразка і площі його поперечного перерізу, використовуючи формулу . (3) Опором переходу метал-напівпровідник нехтуємо. Послідовність виконання роботи
5. Встановити регулятор вихідної напруги на автотрансформаторі в положення “0”.
Таблиця 1
Контрольні запитання
Лабораторна робота №11
Дослідження р–n переходу та його практичного використання
Мета роботи Дослідити вольт–амперну характеристику р–n переходу та ознайомитися із його використанням для випрямлення змінного струму та стабілізації напруги
Для виконання лабораторної роботи студенту попередньо необхідно: знати особливості зонної структури і механізми власної і домішкової провідностей напівпровідників (§6.1, §6.2), фізичну суть процесів, які спостерігаються на межі контакту напівпровідників і типу (§6.4)
Прилади і обладнання Лабораторна установка для дослідження вольт–амперної характеристики р–n переходу, діод типу Д226, стабілітрон типу Д814
|
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Последнее изменение этой страницы: 2016-08-26; просмотров: 1642; Нарушение авторского права страницы; Мы поможем в написании вашей работы! infopedia.su Все материалы представленные на сайте исключительно с целью ознакомления читателями и не преследуют коммерческих целей или нарушение авторских прав. Обратная связь - 3.147.103.33 (0.006 с.) |