Заглавная страница Избранные статьи Случайная статья Познавательные статьи Новые добавления Обратная связь FAQ Написать работу КАТЕГОРИИ: АрхеологияБиология Генетика География Информатика История Логика Маркетинг Математика Менеджмент Механика Педагогика Религия Социология Технологии Физика Философия Финансы Химия Экология ТОП 10 на сайте Приготовление дезинфицирующих растворов различной концентрацииТехника нижней прямой подачи мяча. Франко-прусская война (причины и последствия) Организация работы процедурного кабинета Смысловое и механическое запоминание, их место и роль в усвоении знаний Коммуникативные барьеры и пути их преодоления Обработка изделий медицинского назначения многократного применения Образцы текста публицистического стиля Четыре типа изменения баланса Задачи с ответами для Всероссийской олимпиады по праву Мы поможем в написании ваших работ! ЗНАЕТЕ ЛИ ВЫ?
Влияние общества на человека
Приготовление дезинфицирующих растворов различной концентрации Практические работы по географии для 6 класса Организация работы процедурного кабинета Изменения в неживой природе осенью Уборка процедурного кабинета Сольфеджио. Все правила по сольфеджио Балочные системы. Определение реакций опор и моментов защемления |
Основные параметры процесса поглощения излучения в полупроводниках.Содержание книги
Поиск на нашем сайте
При рассмотрении поглощения электромагнитного излучения в полупроводниках будем вести речь только о слабых потоках энергии, когда параметры, характеризующие оптические свойства среды, можно считать не зависящими от интенсивности падающего излучения, поскольку низкоэнергетичная электромагнитная волна не изменяет энергетический спектр носителей заряда, а лишь создает новые пары «электрон-дырка» или вызывает перераспределение носителей по состояниям в зоне проводимости или валентной зоны. Будем также считать, что длина падающей электромагнитной волны значительно превышает постоянную решетки полупроводника а (расстояние между соседними атомами). При падении излучения интенсивностью I0 (количество энергии, переносимое потоком излучения через единичную площадку в единицу времени)на полупроводник (см. рис. 1) в его объем проникает не весь поток, т.к. часть излучения отражается от поверхности. Для характеристики отражения света вводится коэффициент отражения. Если падающая интенсивность I 0, а отраженная – IR, то коэффициент отражения определяется как Зависимость коэффициента отражения R от длины волны падающего излучения λ называется спектром отражения – R (λ) твердого тела. Излучение, проникающее в объем полупроводника, по мере распространения в его объеме уменьшает свою интенсивность, что обусловлено взаимодействием излучения с атомами полупроводника, со свободными носителями и т.д. Это уменьшение описывается законом Бугера-Ламберта: (1)
где α – некоторый параметр среды, который имеет размерность обратной длины и называется коэффициентом поглощения. Этот коэффициент характеризует расстояние , при прохождении которого интенсивность излучения уменьшается в e раз (рис. 1). Обычно это расстояние называют длиной свободного пробега фотона в полупроводнике. В современной фотонной теории света доказывается, что уменьшение интенсивности света при распространении его в полупроводнике возможно только из-за уменьшения числа фотонов. Поглощение фотонов, вероятно, осуществляется некими центрами поглощения, в роли которых выступают атомы основного вещества твердого тела. Пусть σ – площадь поперечного сечения поглощающего центра, т.е. вероятность поглощения фотона при его попадании в одиночную мишень сечением σ. Если N − число центров, поглощающих фотоны в единичном объеме, то уменьшение потока фотонов на величину ∂ q при прохождении им слоя полупроводника толщиной ∂ x должно быть пропорционально площади поперечного сечения поглощающего центра σ, концентрации N, величине потока и толщине слоя: где σ – вероятность поглощения фотонов всеми N центрами в единичном объеме. Из этого уравнения найдем (2) Поскольку интенсивность света I связана с числом фотонов в падающем излучении (n – число фотонов в единичном объеме светового потока, с – скорость света, – поток фотонов, – энергия фотона), то (1) можно переписать в виде (3) Сравнивая это выражение с выражением (1) находим, что коэффициент поглощения равен: . Если в твердом теле обнаруживается несколько механизмов поглощения со своими значениями σ i и Ni, (i – различные сорта поглощающих центров) действующими независимо друг от друга, то результирующий коэффициент поглощения излучения будет равен алгебраической сумме коэффициентов поглощения различных механизмов . Предположим, что квант света имеет энергию , тогда поперечное сечение поглощения атомами основного вещества можно считать равным поперечному сечению самих атомов. Поэтому входящие в (3) величины оценим следующим образом: вероятность поглощения фотонов σ ≈ (10−16 ÷10−17) см2, число центров поглощения N ≈1022 см–3, коэффициент поглощения α ≈ (105 ÷106) см–1 и lф ≈ (10−5 ÷10−6) см = (0.1÷ 0.01) мкм. Отсюда следует важный физический вывод: излучение в полупроводнике поглощается в тонком приповерхностном слое, а объем полупроводника в поглощении излучения никак не участвует. Следовательно, поглощение в полупроводниках должно быть очень чувствительным к состоянию приповерхностного слоя и самой поверхности полупроводника.
|
||||||
Последнее изменение этой страницы: 2016-09-20; просмотров: 374; Нарушение авторского права страницы; Мы поможем в написании вашей работы! infopedia.su Все материалы представленные на сайте исключительно с целью ознакомления читателями и не преследуют коммерческих целей или нарушение авторских прав. Обратная связь - 18.116.14.111 (0.005 с.) |