Учёт влияния на надёжность элементов электрического режима, условий работы, конструкторско-технологических и других особенностей элементов.

Для повышения надёжности элементов коэффициенты нагрузки берут меньше 1, а условия эксплуатации оказываются более жесткими. Поэтому интенсивность отказов и пересчитывают. Считают по формуле:

где λ(ν) - значение интенсивности отказов с учетом электрического режима и условий эксплуатации; λ₀ - справочное значение интенсивности отказов; y(x1…x_m) – пересчётная функция; х1…х_m - факторы, принимаемые во внимание; m – кол-во факторов.

Для пересчетной функции используют выражение:

где α(x_i) — поправочный коэффициент, учитывающий влияние фактора x_i.

В качестве факторов x_i могут рассматриваться коэффициент нагрузки, температура, давление, характер электрического режима, номинальное значение параметра элемента и т.д.

Для определения произведения поправочных коэффициентов для этого случая можно пользоваться номограммами, построенными для различных видов элементов по результатам исследований:

Суммарный поправочный коэффициент:

где α(Kн) — поправочный коэффициент, учитывающий влияние коэффициента нагрузки;

α(t°) — поправочный коэффициент, учитывающий влияние температуры.

На рисунке выше показано как воспользоваться номограммой в случае, когда Кн=0,4; t°=60 °С

В инженерной практике для учета влияния на надежность элементов только коэффициента электрической нагрузки Кн можно пользоваться примерным соотношением:

где b – показатель степени, зависящий от вида и типа элемента.

 

31. Модели прогнозирования эксплуатационной безотказности электрических и электронных компонентов устройств и систем обеспечения безопасности(на примере интегральных микросхем).

Интегральные микросхемы(ИМС). Относятся к классу надежных элементов. При прочих равных условиях гибридные ИМС менее надежны по сравнению с полупроводниковыми из-за наличия в них паяных соединений и навесных компонентов.

В общем случае цифровые ИМС надежнее аналоговых(линей-но-импульсных). Объясняется это режимом переключения, в котором работают цифровые ИМС.

Надёжность ИМС слабо зависит от степени интеграции, то есть от числа элементов в ИМС. Объясняется это тем, что значительный вклад в ненадёжность ИМС вносят корпус и межсоединения, а таковые имеют, как правило, все ИМС.

32. Модели прогнозирования эксплуатационной безотказности электрических и электронных компонентов устройств и систем обеспечения безопасности(на примере полупроводниковых приборов).

Замечено, что примерно 80% отказов полупроводниковых приборов являются постепенными, т.е. отказами в виде постепенного и монотонного ухода параметров запределы норм, указанных в технической документации.

В общем случае мощные полупроводниковые приборы менее надежны. Это объясняется влиянием тепловой нагрузки на кристалл. Установлено, что надёжность мощных полупроводниковых приборов во многом зависит от качества припайки кристалла к корпусу.

Надёжность полупроводниковых приборов также зависит от вида технологии изготовления самого прибора, а кроме того– от электрического режима работы(усилительный или ключевой режим).

33. Модели прогнозирования эксплуатационной безотказности электрических и электронных компонентов устройств и систем обеспечения безопасности(на примере коммутационных изделий).

Элементы коммутации. Относятся к классу самых ненадежных элементов из-за наличия механических контактов.

В справочниках интенсивность отказов для элементов коммутации задается иначе, нежели для элементов, рассмотренных выше, а именно:

для тумблеров, кнопок, реле и т.п. – значением λ, приходящимся на один контакт при номинальном токе через контакт;

для переключателей– значением λ, приходящимся на одну контактную группу при номинальном токе через контакты;

для соединителей(разъемов) – значением λ, приходящимся на один штырь разъёма при номинальном токе через штырь;

для монтажных и соединительных проводов, кабелей– значением λ, приходящимся на каждый метр длины при номинальной плотности тока в проводе.