Зависимость времени жизни от уровня легирования (низкий уровень инжекции) 


Мы поможем в написании ваших работ!



ЗНАЕТЕ ЛИ ВЫ?

Зависимость времени жизни от уровня легирования (низкий уровень инжекции)



При низком уровне инжекции D n << n 0+ р 0) выражение для времени жизни примет вид;

. (28)

Рассмотрим, каким образом изменяется время жизни в зависимости от уровня легирования полупроводника. При полной ионизации примеси n 0= ND (в электронном полупроводнике) или p 0= NA (в дырочном полупроводнике). Связь же n 0 и р 0 с уровнем Ферми определяется следующими соотношениями.

и (29)

Пусть уровень Ферми располагается в области I между дном зоны проводимости и уровнем Et (рис.4). Такое положение уровня Ферми соответствует достаточно сильно легированному, но не вырожденному электронному полупроводнику, поэтому справедливы неравенства n 0>> n 1>> р 1>> р 0. Выражение (8) преобразуется к следующему виду.

. (30)

Таким образом, время жизни - постоянная величина, определяемая только числом и свойствами ловушек, когда они полностью заняты электронами.

Действительно, в этом случае в равновесии все ловушки заполнены электронами и велика концентрация электронов в зоне проводимости. Появление неравновесных электронов и дырок в зонах приводит к тому, что дырки начинают захватываться заполненными ловушками. Однако такой захват не может существенно повлиять на заполнение ловушек, так как из-за большой концентрации электронов в зоне проводимости любая дырка, захваченная ловушкой, практически мгновенно рекомбинирует с электроном. Таким образом, очевидно, что время жизни дырки (и пары электрон-дырка) определяется полной концентрацией ловушек (которые в описываемых условиях всегда бывают заполнены), сечению захвата и равно tр 0. Величину tр 0называют временем жизни неосновных носителей заряда (дырок) в сильно легированном невырожденном электронном полупроводнике.

Рис.4. Зависимость времени жизни при низком уровне инжекции от положения уровня Ферми в запрещенной зоне полупроводника

При нахождении уровня Ферми в области IV (достаточно сильно легированный, но не вырожденный дырочный полупроводник) выполняются неравенства:

. (31)

Время жизни определяется только эффективностью захвата электронов.

. (32)

Время жизни постоянно и не зависит от положения уровня Ферми. В этом случае ловушки заполнены дырками и электрон, захваченный ловушкой, немедленно рекомбинирует с дырками. Обратный тепловой заброс с ловушек в зону проводимости не играет существенной роли. Величину tn0 называют временем жизни электронов в сильно легированном невырожденном дырочном полупроводнике.

В области II (слабо легированный электронный полупроводник) выполняются соотношения:

. (33)

Время жизни равно

. (34)

Для области Ш (слабо легированный дырочный полупроводник) аналогично можно записать:

. (35)
. (36)

Таким образом, при уменьшении степени легирования полупроводника время жизни увеличивается и достигает максимального значения в собственном полупроводнике при EF = Ei:

. (37)

Это объясняется тем, что при удалении уровня Ферми от уровня ловушки Et к середине зоны Ei уменьшается степень заполнения ловушек, что снижает вероятность рекомбинации.

Итак, время жизни максимально в собственном полупроводнике, а при относительно большом уровне легирования равно времени захвата неосновных носителей tn0 или tp0.

Зависимость времени жизни от уровня инжекции

При высоком уровне инжекции , поэтому из формулы (7) получаем

. (38)

Таким образом, при высоком уровне инжекции t=t и не зависит от концентрации избыточных носителей, уровня легирования и температуры. Величина t определяется только концентрацией и сечением захвата ловушек.

При произвольном уровне инжекции выражение для t можно преобразовать к виду

, (39)

где , .

Выражение (9) показывает, что время жизни меняется в зависимости от D n монотонно. Увеличение или уменьшение t зависит от отношения a / c (рис.5).

Рис.5. Влияние уровня инжекции на время жизни: 1 - низкий уровень инжекции; 2 - высокий уровень инжекции.

Увеличение или уменьшение t зависит от отношения a / c (рис.5). Из рис.5 следует, что в сильно легированных невырожденных полупроводниках время жизни с увеличением уровня инжекции растет, а в слабо легированных - падает.



Поделиться:


Последнее изменение этой страницы: 2016-04-26; просмотров: 786; Нарушение авторского права страницы; Мы поможем в написании вашей работы!

infopedia.su Все материалы представленные на сайте исключительно с целью ознакомления читателями и не преследуют коммерческих целей или нарушение авторских прав. Обратная связь - 3.144.84.175 (0.008 с.)