S: Для дифракционной решетки справедливо соотношение

-:

-:

+:

-:

-:

I:

S: Дифракционная решетка используется для:

-: Определения концентрации растворов оптически активных веществ

+: Точного измерения длины световых волн

-: Измерения толщины прозрачных микрообъектов

-: Усиления яркости изображений

-: Получения увеличенного изображения мелких объектов

I:

S: Явление дифракции используется

-: В концентрационной колориметрии

-: В ультрамикроскопии

-: В голографии

+: В рентгеноструктурном анализе

-: В рефрактометрии

I:

S: Гипотеза о том, что движущиеся микрочастицы обладают волновыми свойствами впервые была высказана

+: Де-Бройлем

-: Эйнштейном

-: Бором

-: Планком

-: Шредингером

I:

S: Движение микрочастицы сопровождается распространением волны, длина которой равна

-:

-:

-:

-:

+:

I:

S: Первое экспериментальное подтверждение гипотезы о том, что движущиеся микрочастицы обладают волновыми свойствами, было дано

-: Кулоном

-: Планком

-: Эйнштейном

+: Дэвиссоном и Джермером

-: Томсоном и Тартаковским

I:

S: Волновые свойства частиц были обнаружены в опытах по

-: Отражению микрочастиц от границы раздела сред

-: Поглощению микрочастиц в мутных средах

+: Дифракции электронов

-: Поляризации протонов

-: Интерференции альфа-частиц

V1: ИНТЕРФЕРЕНЦИЯ СВЕТА

I:

S: Интерференцией света называется явление

-: При котором электрическая составляющая светового вектора колеблется в одной плоскости

-: Отклонения света от прямолинейного распространения в среде с резкими неоднородностями

+: Наложения световых пучков от когерентных источников, при котором получается устойчивая картина их взаимного усиления или ослабления

-: Освобождения электронов от связей с атомами и молекулами вещества под воздействием видимого света

-: Поглощения света в мутных средах

I:

S: В явлении интерференции обнаруживаются

-: Магнитные свойства света

-: Электрические свойства света

-: Прямолинейность распространения света

-: Корпускулярные свойства света

+: Волновые свойства света

I:

S: Интерференционный максимум имеет место при условии, когда разность хода световых лучей равна

-: Целому числу полуволн

-: Нечетному числу полуволн

+: Четному числу полуволн

-: Четному числу волн

-: Нулю

I:

S: Интерференционный минимум имеет место при условии, когда разность хода световых лучей равна

-: Целому числу полуволн

+: Нечетному числу полуволн

-: Четному числу полуволн

-: Четному числу волн

-: Нулю

I:

S: Координаты максимумов интерференции рассчитываются по формуле

+:

-:

-:

-:

-:

I:

S: Координаты минимумов интерференции рассчитываются по формуле

-:

+:

-:

-:

-:

I:

S: Расстояние между двумя ближайшими максимумами интерференции рассчитывается по формуле

-:

-:

+:

-:

-:

I: