Анализ схемы базирования и применяемых для базирования

 заготовки на приспособлении опор.

       2.1 Определение схемы базирования

          Прежде всего, необходимо установить схему базирования и комплект технологических баз. Для определения схемы базирования нужно вычертить эскиз обрабатываемой на операции заготовки. На эскизе жирными линиями указать обрабатываемые поверхности, размеры, получаемые при обработке и размеры, определяющие положение обрабатываемых поверхностей относительно тех поверхностей детали, которые используются на приспособлении как базовые (технологические базы). Определить вид каждой технологической базы по лишаемым степеням свободы, используя основные критерии вида технологических баз - площадь и длину технологической базы. Нанести на схеме базирования условное обозначение опорных точек технологических баз на поверхности, линии или оси детали, установленной на приспособлении. Выбор технологической базы производится с учетом геометрической формы базовой поверхности, типа металлорежущего станка и технологического метода обработки детали. Вторая опорная технологическая база в первом комплекте и опорная технологическая база во втором комплекте, в зависимости от условий

2

б)

А±ТА

А±ТА

6

6

5

5

1

1

6

5

1

2

1

6

5

1

2

3

4

S

S/2

2

3

3

4

D

1

1

2

2

2

2

3

3

4

4

5

5

6

6

S/2

S/2

S

S

А±ТА

А±ТА

4

4

1

2

3

3

1

3

а)

в)

г)

Рис.1 Особенности базирования заготовок на длинный и короткий пальцы: 1- заготовка; 2 – палец цилиндрический; 3 – корпус приспособления.

 базирования, могут быть или явными, или скрытыми.

На выбор варианта комплекта технологических баз оказывают влияние соотношение диаметра и высоты обрабатываемой заготовки, требования к точности взаимного положения обрабатываемой и базовой поверхностей

       Записать установленную схему базирования и комплект технологических баз, например, «Схема базирования по наружной цилиндрической поверхности и перпендикулярной её оси плоскости», см. рис.1. Комплект технологических баз зависит от технических требований не только линейного размера А±Т_А, но т требований к точности взаимного расположения - отклонений от перпендикулярности или отклонения от параллельности осей детали. Комплект технологических баз в первом случае - двойная направляющая технологическая база, опорная технологическая база и вторая опорная технологическая база, рис. 1 а и 1 б Комплект технологических баз во втором случае - установочная технологическая база, двойная опорная технологическая база, опорная технологическая база, рис. 1 в и 1 г.