Заглавная страница Избранные статьи Случайная статья Познавательные статьи Новые добавления Обратная связь FAQ Написать работу КАТЕГОРИИ: АрхеологияБиология Генетика География Информатика История Логика Маркетинг Математика Менеджмент Механика Педагогика Религия Социология Технологии Физика Философия Финансы Химия Экология ТОП 10 на сайте Приготовление дезинфицирующих растворов различной концентрацииТехника нижней прямой подачи мяча. Франко-прусская война (причины и последствия) Организация работы процедурного кабинета Смысловое и механическое запоминание, их место и роль в усвоении знаний Коммуникативные барьеры и пути их преодоления Обработка изделий медицинского назначения многократного применения Образцы текста публицистического стиля Четыре типа изменения баланса Задачи с ответами для Всероссийской олимпиады по праву Мы поможем в написании ваших работ! ЗНАЕТЕ ЛИ ВЫ?
Влияние общества на человека
Приготовление дезинфицирующих растворов различной концентрации Практические работы по географии для 6 класса Организация работы процедурного кабинета Изменения в неживой природе осенью Уборка процедурного кабинета Сольфеджио. Все правила по сольфеджио Балочные системы. Определение реакций опор и моментов защемления |
Зависимость времени жизни от уровня легирования (низкий уровень инжекции)Содержание книги
Поиск на нашем сайте
При низком уровне инжекции D n << n 0+ р 0) выражение для времени жизни примет вид;
Рассмотрим, каким образом изменяется время жизни в зависимости от уровня легирования полупроводника. При полной ионизации примеси n 0= ND (в электронном полупроводнике) или p 0= NA (в дырочном полупроводнике). Связь же n 0 и р 0 с уровнем Ферми определяется следующими соотношениями.
Пусть уровень Ферми располагается в области I между дном зоны проводимости и уровнем Et (рис.4). Такое положение уровня Ферми соответствует достаточно сильно легированному, но не вырожденному электронному полупроводнику, поэтому справедливы неравенства n 0>> n 1>> р 1>> р 0. Выражение (8) преобразуется к следующему виду.
Таким образом, время жизни - постоянная величина, определяемая только числом и свойствами ловушек, когда они полностью заняты электронами. Действительно, в этом случае в равновесии все ловушки заполнены электронами и велика концентрация электронов в зоне проводимости. Появление неравновесных электронов и дырок в зонах приводит к тому, что дырки начинают захватываться заполненными ловушками. Однако такой захват не может существенно повлиять на заполнение ловушек, так как из-за большой концентрации электронов в зоне проводимости любая дырка, захваченная ловушкой, практически мгновенно рекомбинирует с электроном. Таким образом, очевидно, что время жизни дырки (и пары электрон-дырка) определяется полной концентрацией ловушек (которые в описываемых условиях всегда бывают заполнены), сечению захвата и равно tр 0. Величину tр 0называют временем жизни неосновных носителей заряда (дырок) в сильно легированном невырожденном электронном полупроводнике. Рис.4. Зависимость времени жизни при низком уровне инжекции от положения уровня Ферми в запрещенной зоне полупроводника При нахождении уровня Ферми в области IV (достаточно сильно легированный, но не вырожденный дырочный полупроводник) выполняются неравенства:
Время жизни определяется только эффективностью захвата электронов.
Время жизни постоянно и не зависит от положения уровня Ферми. В этом случае ловушки заполнены дырками и электрон, захваченный ловушкой, немедленно рекомбинирует с дырками. Обратный тепловой заброс с ловушек в зону проводимости не играет существенной роли. Величину tn0 называют временем жизни электронов в сильно легированном невырожденном дырочном полупроводнике. В области II (слабо легированный электронный полупроводник) выполняются соотношения:
Время жизни равно
Для области Ш (слабо легированный дырочный полупроводник) аналогично можно записать:
Таким образом, при уменьшении степени легирования полупроводника время жизни увеличивается и достигает максимального значения в собственном полупроводнике при EF = Ei:
Это объясняется тем, что при удалении уровня Ферми от уровня ловушки Et к середине зоны Ei уменьшается степень заполнения ловушек, что снижает вероятность рекомбинации. Итак, время жизни максимально в собственном полупроводнике, а при относительно большом уровне легирования равно времени захвата неосновных носителей tn0 или tp0. Зависимость времени жизни от уровня инжекции При высоком уровне инжекции , поэтому из формулы (7) получаем
Таким образом, при высоком уровне инжекции t=t∞ и не зависит от концентрации избыточных носителей, уровня легирования и температуры. Величина t∞ определяется только концентрацией и сечением захвата ловушек. При произвольном уровне инжекции выражение для t можно преобразовать к виду
где , . Выражение (9) показывает, что время жизни меняется в зависимости от D n монотонно. Увеличение или уменьшение t зависит от отношения a / c (рис.5). Рис.5. Влияние уровня инжекции на время жизни: 1 - низкий уровень инжекции; 2 - высокий уровень инжекции. Увеличение или уменьшение t зависит от отношения a / c (рис.5). Из рис.5 следует, что в сильно легированных невырожденных полупроводниках время жизни с увеличением уровня инжекции растет, а в слабо легированных - падает.
|
||||||||||||||||||||||||||||
Последнее изменение этой страницы: 2016-04-26; просмотров: 882; Нарушение авторского права страницы; Мы поможем в написании вашей работы! infopedia.su Все материалы представленные на сайте исключительно с целью ознакомления читателями и не преследуют коммерческих целей или нарушение авторских прав. Обратная связь - 3.144.106.207 (0.008 с.) |