Заглавная страница Избранные статьи Случайная статья Познавательные статьи Новые добавления Обратная связь КАТЕГОРИИ: АрхеологияБиология Генетика География Информатика История Логика Маркетинг Математика Менеджмент Механика Педагогика Религия Социология Технологии Физика Философия Финансы Химия Экология ТОП 10 на сайте Приготовление дезинфицирующих растворов различной концентрацииТехника нижней прямой подачи мяча. Франко-прусская война (причины и последствия) Организация работы процедурного кабинета Смысловое и механическое запоминание, их место и роль в усвоении знаний Коммуникативные барьеры и пути их преодоления Обработка изделий медицинского назначения многократного применения Образцы текста публицистического стиля Четыре типа изменения баланса Задачи с ответами для Всероссийской олимпиады по праву Мы поможем в написании ваших работ! ЗНАЕТЕ ЛИ ВЫ?
Влияние общества на человека
Приготовление дезинфицирующих растворов различной концентрации Практические работы по географии для 6 класса Организация работы процедурного кабинета Изменения в неживой природе осенью Уборка процедурного кабинета Сольфеджио. Все правила по сольфеджио Балочные системы. Определение реакций опор и моментов защемления |
Рентгено- и гаммаграфический метод контроля (радиография.)
В основе различных методов радиационной дефектоскопии лежат способы регистрации интенсивности излучения за исследуемым изделием. Так, если за просвечиваемым изделием поместить флуороскопический экран, то на нем получится теневое изображение просвечиваемого участка изделия; при этом внутренние дефекты, имеющие характер пустот, на экране отобразятся в виде светящихся пятен на более темном фоне. Применение экранов, а также электроннооптических преобразователей и кристаллов лежит в основе визуального метода радиационной дефектоскопии — флуороскопии. При просвечивании на рентгеновскую пленку получается негативное фотографическое изображение теневой проекции изделия с темными пятнами в местах расположения внутренних дефектов типа пустот. Применение рентгеновских пленок лежит в основе радиографического метода дефектоскопии—рентгено- и гаммаграфии. Применяют также ионизационный и ксерографический методы. При ионизационном методе контроля изделий интенсивность излучения регистрируется с помощью счетчиков или ионизационных камер, при ксерографическом методе — с помощью полупроводниковых пластин. Основы метода Рентгено- и гаммаграфия—это методы получения на рентгеновской пленке изображения предмета (изделия), просвечиваемого рентгеновским или у-мзлучением. Источник излучения располагается с одной стороны просвечиваемого предмета, а кассета с рентгеновской пленкой—с другой (рис. 5.1). Этот метод контроля основан на свойстве рентгеновского и у -излучений вызывать почернение эмульсии пленки. Степень почернения различных участков рентгеновской пленки после ее соответствующей фотообработки (проявления) определяется величиной поглощенной дозы излучения, которая зависит от толщины плотности и однородности поглотителя излучения.Снимок объекта, полученный просвечиванием рентгеновским излучением, называют рентгенограммой или рентгеновским снимком, а полученный при просвечивании у -излучением, — гаммаграммой или гаммаснимком. Получаемые при радиографировании снимки характеризуют «прозрачность» различных участков контролируемого изделия для рентгеновского и у -излучений, и поэтому по снимкам легко выявляют как неоднородности (дефекты) в плотности просвечиваемого материала, так и различие в толщинах однородного материала. Встречающиеся в практике дефекты в металлах и неметаллах в большинстве случаев имеют характер пустот (раковины, трещины, непровары в сварных швах, непропаи в паяных швах). На снимках эти дефекты выявляются в виде темных пятен (раковины, поры), искривленных линий (трещины) или полос (непровары) и т. д.
Выявляемость дефеков - это количественная характеристика данного метода контроля, т. е. способность этого метода обнаруживать реальные дефекты (сварки, пайки, литья и других технологических процессов) в конкретных производственных условиях. Если при просвечивании объекта дефекты на снимке не обнаружены, то это не обязательно означает, что их нет. Дефект может быть расположен таким образом, что при выбранных режиме и схеме просвечивания он не выявляется. Не обнаруживается и слишком маленький дефект, так как чувствительность метода имеет определенную величину и в данном случае может оказаться недостаточной. Выявляемость дефектов n характеризуется отношением числа обнаруженных дефектов N к полному числу дефектов N0 в исследуемом участке ооъекта: n = N/N0 Следовательно, максимально возможная выявляемость дефектов равна единице, однако практически она всегда меньше единицы и зависит от чувствительности метода. Чувствительность метода Под чувствительностью радиографического метода контроля подразумевают минимальную протяженность обнаруживаемого по рентгено- и гаммаграммам дефекта в направлении просвечивания, выраженную либо в единицах длины (абсолютная чувствительность), либо в процентах (или долях) толщины просвечиваемого материала (относительная чувствительность). Размер дефекта в процентах толщины просвечиваемого материала (относительный размер дефекта) выражается формулой K=ΔL/L=(L-L1)/L*100% Где L—толщина материала в направлении просвечивания, мм; Чувствительность радиографического метода контроля зависит от следующих основных факторов: энергии первичного излучения, рассеянного излучения, плотности и толщины просвечиваемого материала, формы и места расположения дефекта по толщине исследуемого материала, геометрических условий просвечивания (геометрических размеров источника, размера поля облучения и фокусного расстояния), оптической плотности и контрастности снимка, сорта и качества пленок, типа усиливающих экранов и т. д.
|
|||||
Последнее изменение этой страницы: 2017-02-06; просмотров: 1791; Нарушение авторского права страницы; Мы поможем в написании вашей работы! infopedia.su Все материалы представленные на сайте исключительно с целью ознакомления читателями и не преследуют коммерческих целей или нарушение авторских прав. Обратная связь - 18.221.41.214 (0.004 с.) |