Подача заявки на топологию интегральной схемы

КАК ПОДАТЬ ЗАЯВКУ НА РЕГИСТРАЦИЮ ТОПОЛОГИИ ИНТЕГРАЛЬНОЙ МИКРОСХЕМЫ?

Заявка на регистрацию топологии интегральной микросхемы (ИМС) подается в Национальный центр интеллектуальной собственности (далее - Центр).

Заявка должна содержать документы:

заявление о выдаче свидетельства;

депонируемые материалы, содержащие комплект одного из следующих видов материалов:

фотографии фотошаблонов;

сборочный топологический чертеж;

послойные топологические чертежи;

фотографии каждого слоя топологии;

образцы ИМС с данной топологией в случае использования ее до даты подачи заявки;

реферат;

доверенность (в случае подачи через патентного поверенного).

К заявке прилагается документ, подтверждающий уплату патентной пошлины (отмеченная банком копия платежного поручения или квитанция банка), или документ, подтверждающий основания для освобождения от ее уплаты или уплаты в меньшем размере.

Пошлина перечисляется на расчетный счет Центра. Платежный документ должен относиться только к одной заявке и содержать регистрационный номер заявки или название ИМС, а также наименование действия, за которое произведена оплата.

Материалы заявки должны быть оформлены в соответствии со следующими нормативными правовыми актами:

Закон Республики Беларусь "О правовой охране топологий интегральных микросхем";

Правила составления, подачи и рассмотрения заявки на регистрацию топологий интегральных микросхем;

Указ Президента Республики Беларусь "О патентных пошлинах".

Получить консультацию по оформлению заявки можно:

в консультационных пунктах Учебного центра интеллектуальной собственности;

у патентных поверенных Республики Беларусь.

 

2.3. Контрольные вопросы

1. Основные составляющие описания изобретения?

2. Правила оформления описания изобретения?

3. Какие основные пункты должна содержать заявка на изобретение?

4. Основные документы, необходимые для подачи заявки на изобретения?

5. Отличия заявок на охранные документы различных объектов промышленной собственности?

6. На какие ОПС выдаются патенты?

7. На какие ОПС выдаются свидетельства?

 

ЗАНЯТИЕ №3

ПАТЕНТНО-ИНФОРМАЦИОННЫЙ ПОИСК ИЗОБРЕТЕНИЙ, ПОЛЕЗНЫХ МОДЕЛЕЙ, ПРОМЫШЛЕННЫХ ОБРАЗЦОВ, ТОВАРНЫХ ЗНАКОВ И ДР. ПО БАЗАМ ДАННЫХ ПАТЕНТНЫХ ВЕДОМСТВ СТРАН МИРА И МЕЖДУНАРОДНЫХ ОРГАНИЗАЦИЙ (С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ ФОНДОВ НАУЧНО-ТЕХНИЧЕСКИХ БИБЛИОТЕК, СЕТИ ИНТЕРНЕТ). ИССЛЕДОВАНИЕ ТЕХНИЧЕСКОГО УРОВНЯ ОБЪЕКТОВ ТЕХНИКИ, ОЦЕНКА ПАТЕНТОСПОСОБНОСТИ НОВЫХ ТЕХНИЧЕСКИХ РЕШЕНИЙ, ПРОВЕРКА ПАТЕНТНОЙ ЧИСТОТЫ ОБЪЕКТОВ ТЕХНИКИ И ДР. ОФОРМЛЕНИЕ ОТЧЕТА О ПАТЕНТНЫХ ИССЛЕДОВАНИЯХ.

Цель работы: Изучить основы проведения патентно-информационного поиска, на основании чего он проводится, раскрыть его сущность и рассмотреть пример оформления отчета о патентныхисследованиях.

Теоретическая часть

Целью патентных исследований является определение уровня техники, который используется для проверки соответствия заявленного изобретения условиям патентоспособности «новизна» и «изобретательский уровень».

Патентное исследование проводится на основании формулы изобретения с учетом описания и чертежей, если они имеются, а также с учетом изменений формулы изобретения, принятых во внимание при рассмотрении заявки.

При определении уровня техники общедоступными считаются сведения, содержащиеся в источниках информации, с которыми любое лицо может ознакомиться сами либо о содержании которых ему может быть законным путем сообщено.

 

Патентный поиск в Inernet

На сегодняшний день возможно производить патентный поиск в Inernet.

Российское агентство по патентам и товарным знакам (Роспатент) предоставляет доступ к патентным материалам на страницах своего сайта http://www.fips.ru/russite/ (рис. 3.1).

 

Рисунок 3.1 – Страница информационно-поисковой системы

Бесплатный доступ открыт к текстам МПК, БД IMPIN, БД рефератов Российских патентных документов на русском и английском языках, БД рефератов полезных моделей, полным текстам Российских патентных документов из последнего бюллетеня.

После выбора базы данных необходимо перейти в раздел «Формулировка запроса». В структуре поискового бланка графа «Основная область запроса» используется для поиска в текстовой части документа (названии, реферате, описании, патентной формуле). Все остальные графы – для поиска в отдельных полях библиографического описания патента.

Общие правила формулирования задания:

1. Строчные и заглавные буквы в задании взаимозаменяемы;

2. Точная фраза обозначается двойными кавычками.

Список доступных баз данных на страницах Роспатента приведен на http://www.fips.ru/russite/dbs/dbs.htm.

Евразийские патенты. На странице http://www.eapo.org/rus/reestr/ (рис. 4) представлен реестр Евразийских патентов с возможностью поиска по различным критериям. Полнотекстовых патентов нет, имеется только информация о реестрах евразийских патентов. При этом информацию, полученную с данного сайта (номер патента, номер заявки, название, авторов, данные организации и т.п.) можно использовать в зарубежных базах данных для поиска по найденным критериям.

 

Рисунок 4 – Страница для поиска по БД ЕПО

Бесплатный поиск по патентам США возможно проводить с 1790 г по сайту компании United States Patent and Trademark Office http://www.uspto.gov/patft/ (рис. 5). Поиск патентов до 1976 г. Может быть произведен только по регистрационному номеру либо по классификационному коду. Информацию о патентах опубликованных после 01.01.1976 г. можно искать по любому фрагменту текста.

Языковой барьер помогают преодолеть сайты-переводчики http://www.translate.ru/ и http://babelfish.altavista.com.

Сайт содержит две автономные базы данных:

- патенты – Issued Patents (PatFT);

- патентные заявки – Published Applications (AppFT).

Поиск можно производить из трех поисковых форм:

Quick Search (быстрый поиск) – поиск по ключевому слову, рекомендуется начинающим пользователям. При формировании запроса из меню выбирается любое из 30 доступных полей патента;

Advanced Search – расширенный поиск по многим параметрам, используется для поиска любой степени сложности;

Patent Number Search – поиск патента только по регистрационному номеру.

 

 

Рисунок 5 – Страница United States Patent and Trademark Office

 

Список патентов, формируется в обратном хронологическом порядке (более новые патенты выводятся первыми), к материалам патента ведет гиперссылка от регистрационного номера и названия патента. Перейдя к конкретному патенту можно увидеть текст без рисунков. На странице имеются ссылки к патентам-прототипам – References Cited. Гиперссылка References By ведет к патентам, в которых цитируется данный патент. Нажимая кнопку Image можно перейти к HTML – странице со встроенным TIF-файлом – отсканированным изображением первого листа патента. Для просмотра TIF-файла в окне браузера необходимо скачать дополнительную программу с сайта http:/www.internetiff.com/.

В конце 2005 г. Европейский патентный офис открыл бесплатный доступ к своей полнотекстовой базе данных патентной информации. Доступ более чем к 50 млн. документов организован через Интернет-портал http://www.espacenet.com/

На главной странице имеются следующие ссылки:

- access esp@cenet – электронная брошюра с инструкциями и примерами для начинающих пользователей;

- information resources – обучающие модули (35 модулей) для обучения поиску и работе с документами;

- information resources – ссылки на полезные документы и статьи для пользователей;

- esp@cenet forum – форум посетителей портала и пользователей базы данных;

- esp@cenet links – ссылки на Интернет страницы организаций, поддерживающих использование патентной базы данных.

Вся информация представлена на английском языке. Кроме того, документы доступны также на немецком и французском языках.

Патентное бюро Японии. Поиск по серверу Японского патентного ведомства (ЯПВ) необходимо начинать со страницы http://www.jpo.go.jp/ (рис. 6).

 

 

Рисунок 6 – Страница сайта патентного ведомства Японии

 

Нажав на ссылку указанную на рис. 6, можно перейти на страницу изображенную на рис. 7. На этой странице необходимо выбрать ссылку «РАJ», чтобы перейти на страницу, предназначенную для поиска информации по сайту ЯПВ.

На рис. 8 представлена страница поиска по ЯПВ с полями, предназначенными для поиска по слову (Applicant, Title of invention, Abstract); по номеру (Date of publication of application); по МПК (IPC).

 

 

Рисунок 7 – Страница индустриальной собственности цифровой библиотеки ЯПВ

 

Рисунок 8 – Страница поиска по ЯПВ

3.3. Образец оформления документов по патентно-информационному поиску.

 

Национальная академия наук Беларуси

ГОСУДАРСТВЕННОЕ НАУЧНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ

«ИНСТИТУТ ……………. НАЦИОНАЛЬНОЙ АКАДЕМИИ НАУК БЕЛАРУСИ»

 

УДК 621.3.049.77:535.65:621.794.61

№ госрегистрации

 

«УТВЕРЖДАЮ» Директор канд.техн.наук _________________Ф.И.О. ________________ 2007 г.

 

 

ОТЧЕТ

о патентно-информационных исследованиях по теме

 

НАЗВАНИЕ ТЕМЫ РАБОТЫ

 

Руководитель НИР Ф.И.О.

 

Минск 2007
Список исполнителей

Руководитель

________________ Ф.И.О.

Исполнители:

________________ Ф.И.О.

________________ Ф.И.О.

________________ Ф.И.О.

 

Содержание

	стр.
Перечень сокращений
1. Общие данные об объекте
2. Основная (аналитическая) часть
3. Заключение
Приложения

Перечень сокращений

АОА - анодный оксид алюминия.

К.т.р. – коэффициент термического расширения.

ММС - микромеханические структуры.

 

ОБЩИЕ ДАННЫЕ ОБ ОБЪЕКТЕ

Исполнитель НИР: лаборатория …….

Заказчик: НАН Беларуси