Обозначения, принятые в настоящем стандарте

f (x) - функция преобразования измерительного преобразователя;

Y - значение меры;

f _sf (x) - номинальная функция преобразования измерительного преобразователя;

Y_sf - номинальное значение меры;

D - погрешность конкретного экземпляра средства измерений;

D _s - систематическая составляющая погрешности конкретного экземпляра средства измерений;

- случайная составляющая погрешности конкретного экземпляра средства измерений;

D _р - предел допускаемой погрешности средств измерений данного типа;

D _{s р} - предел допускаемой систематической составляющей погрешности средств измерений данного типа;

М [ D _s ] - математическое ожидание систематической составляющей погрешности средств измерений данного типа;

s [ D _s ] - среднее квадратическое отклонение систематической составляющей погрешности средств измерений данного типа;

s [ ] - среднее квадратическое отклонение случайной составляющей погрешности конкретного экземпляра средства измерений;

s _p [ ] - предел допускаемого среднего квадратического отклонения случайной составляющей погрешности средств измерений данного типа;

r (t) - нормализованная (выраженная в долях дисперсии) автокорреляционная функция случайной составляющей погрешности средства измерений;

S (w) - спектральная плотность случайной составляющей погрешности средства измерений;

М [ D ] - математическое ожидание погрешности средств измерений данного типа;

s [ D ] - среднее квадратическое отклонение погрешности средств измерений данного типа;

- среднее значений погрешности средства измерений в точке х диапазона измерений, полученных экспериментально при медленных непрерывных изменениях информативного параметра входного сигнала при подходах со стороны меньших значений;

- среднее значений погрешности средства измерений в точке х диапазона измерений, полученных экспериментально при медленных непрерывных изменениях информативного параметра входного сигнала при подходах со стороны больших значений;

_H случайная составляющая погрешности конкретного экземпляра средства измерений от гистерезиса;

Н - вариация выходного сигнала конкретного экземпляра средства измерений;

H _p - предел допускаемой вариации выходного сигнала средств измерений данного типа;

y (x) - функция влияния влияющей величины x;

y _sf (x) - номинальная функция влияния;

y _* (x) - граничная функция влияния (нижняя);

y ^* (x) - граничная функция влияния (верхняя);

e (x) - изменение метрологической характеристики конкретного экземпляра средства измерений, вызванное изменением влияющей величины x;

e _р (x) - наибольшее допускаемое изменение метрологической характеристики средства измерений данного типа, вызванное изменениями влияющей величины x;

h (t) - переходная характеристика средства измерений;

g (t) - импульсная переходная характеристика средства измерений;

G (j w) - амплитудно-фазовая характеристика средства измерений;

A (w) - амплитудно-частотная характеристика средства измерений;

G (S) - передаточная функция средства измерений;

t _r - время реакции средства измерений;

t _d - погрешность датирования отсчета АЦП или ЦИП;

А (w ₀) - значение амплитудно-частотной характеристики средства измерений на резонансной частоте;

g _dam - коэффициент демпфирования средства измерений;

Т - постоянная времени средства измерений;

w ₀ - значение резонансной круговой частоты средства измерений;

f _max ^- максимальная частота (скорость) измерений;

- оценка систематической погрешности конкретного экземпляра средства измерений;

- оценка систематической составляющей погрешности конкретного экземпляра средства измерений, обладающего гистерезисом;

[ D _s ] - оценка математического ожидания систематической составляющей погрешности средств измерений данного типа;

[ D ] - оценка математического ожидания погрешности средств измерений данного типа;

[ D _s ] - оценка среднего квадратического отклонения систематической составляющей погрешности средств измерений данного типа;

[ ] - оценка среднего квадратического отклонения случайной составляющей погрешности конкретного экземпляра средства измерений;

[ ] - оценка среднего квадратического отклонения случайной составляющей погрешности конкретного экземпляра средства измерений, обладающего гистерезисом;

[ D ] - оценка среднего квадратического отклонения погрешности средств измерений данного типа;

- оценка вариации выходного сигнала конкретного экземпляра средства измерений;

(t) - оценка нормализованной автокорреляционной функции случайной составляющей погрешности конкретного экземпляра средства измерений;

х - измеряемая величина (информативный параметр входного сигнала);

x - влияющая величина;

x _ref - нормальное значение влияющей величины.

СОДЕРЖАНИЕ

2. Номенклатура метрологических характеристик. 2

3. Способы нормирования метрологических характеристик. 4

4. Формы представления нормированных метрологических характеристик. 7

Приложение 1 обязательное Комплексы mx, нормируемых в нтд на средства измерений конкретных типов. 8

Приложение 2 обязательное Математические определения статистических характеристик погрешности средств измерений. 20

Приложение 3 справочное Пояснения терминов, используемых в настоящем стандарте. 23

Приложение 4 справочное Полные динамические характеристики. 27

Приложение 5 справочное Примеры нормирования mx.. 28

Приложение 6 справочное Обозначения, принятые в настоящем стандарте. 28