Заглавная страница Избранные статьи Случайная статья Познавательные статьи Новые добавления Обратная связь КАТЕГОРИИ: АрхеологияБиология Генетика География Информатика История Логика Маркетинг Математика Менеджмент Механика Педагогика Религия Социология Технологии Физика Философия Финансы Химия Экология ТОП 10 на сайте Приготовление дезинфицирующих растворов различной концентрацииТехника нижней прямой подачи мяча. Франко-прусская война (причины и последствия) Организация работы процедурного кабинета Смысловое и механическое запоминание, их место и роль в усвоении знаний Коммуникативные барьеры и пути их преодоления Обработка изделий медицинского назначения многократного применения Образцы текста публицистического стиля Четыре типа изменения баланса Задачи с ответами для Всероссийской олимпиады по праву Мы поможем в написании ваших работ! ЗНАЕТЕ ЛИ ВЫ?
Влияние общества на человека
Приготовление дезинфицирующих растворов различной концентрации Практические работы по географии для 6 класса Организация работы процедурного кабинета Изменения в неживой природе осенью Уборка процедурного кабинета Сольфеджио. Все правила по сольфеджио Балочные системы. Определение реакций опор и моментов защемления |
Работа усилительного каскада по постоянному току
В отличие от лампы р.т. у транзистора задается током. Причинами изменения р.т. являются:
изменение температуры;
не стабильное питание;
деградация и старение элементов.
Далее будем рассматривать основную проблему ухода рабочей точки из заданного положения – температурную нестабильность. Такая нестабильность может быть вызвана изменением температуры окружающей среды и температуры самого транзистора в результате его работы (потери энергии на паразитных сопротивлениях). При изменении температуры окружающей среды
одинаково изменяются все параметры транзистора.
На практике принято оценивать температурный уход параметров транзистора по изменению тока коллектора, поскольку в линейной области все
Y -параметры транзистора пропорциональны току коллектора.Поэтому,знаяизменение тока коллектора можно оценить изменение всех параметров
где – коэффициент передачи по току в схеме с ОБ (1); J КБ0 –
обратный ток коллектора.
Причины изменения коллекторного тока вытекают из уравнения (5.1):
температурные изменения коэффициента передачи по току в схеме с ОБ;
температурные изменения тока эмиттера J Э;
температурные изменения обратного тока коллектора J КБ0.
Исходя из указанных причин, изменение коллекторного тока определяется
коллектора под воздействием температуры; J 0 T 0 – значение обратного
тока коллектора при нормальной температуре (обычно при 20 0С, но бывает и при 0 0С); – параметр, зависящий от типа транзистора (для кремниевых транзисторов – Si 0,07 0,09, для германиевых – Ge 0,11 0,13);
T Tmax о Tmin о–разброс температур,при которых должен работать
усилитель.
На практике удвоение тока J КБ0 у кремниевых транзисторов происходит
при повышении температуры на каждые 5…7о, а у германиевых – на каждые
9…12о.
Изменение коэффициента передачи по току в схеме с ОБ можно
поставить в соответствие с изменением коэффициента передачи по току в схеме с ОЭ T:
1
Пусть произошло изменение температуры с начальной Т 1 до конечной Т 2 и
при этом коллекторный ток изменился с J К1 до J К2 (рис.6.1 а).
IК 1 IК 2
d
I Э T 2 T1
р.т.’ р.т.’’
dI Э(T)
I Э0 р.т.
T O
U БЭ0 U БЭ1 U БЭ
б)
Рис.5.1. а) Зависимость коэффициента передачи по току в схеме с ОБ от температуры,
б) входная статическая характеристика при разных значениях температуры
Если измениться температура, то ток эмиттера измениться на
При увеличении токов коллектора и эмиттера р.т. перейдёт на статическую характеристику, соответствующую току J К2 T 2 – р.т.’.
Такое же изменение тока эмиттера dJ Э dT произошло бы при
увеличении напряжения база-эмиттер с U БЭ0 до U БЭ1. При этом изменение
напряжение отсечки (0,3…0,4 для кремниевых транзисторов, 0,6…0,7 для германиевых транзисторов).
Можно построить эквивалентную схему транзистора, учитывающую его температурную нестабильность (рис.5.2).
К dI КБ(T) d (I Б +I КБ0) Б
dE Б Э
Рис.5.2. Эквивалентная схема транзистора, учитывающая его температурную нестабильность
Данная эквивалентная схема (рис.6.2) позволяет рассчитать
температурную нестабильность для любой схемы включения транзистора.
|
|||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Последнее изменение этой страницы: 2017-02-08; просмотров: 395; Нарушение авторского права страницы; Мы поможем в написании вашей работы! infopedia.su Все материалы представленные на сайте исключительно с целью ознакомления читателями и не преследуют коммерческих целей или нарушение авторских прав. Обратная связь - 3.133.119.66 (0.017 с.) |